Art. 18b Ordonnance du 26 avril 1993 sur la protection des topographies de produits semi-conducteurs (OTo) - Protection des secrets de fabrication et d’affaires

L’OFDF informe le déclarant, le possesseur ou le propriétaire des produits semi-conducteurs de la possibilité de refuser le prélèvement d’échantillons sur présentation d’une demande motivée. Il lui impartit un délai raisonnable pour présenter cette demande.

Si l’OFDF autorise le requérant à inspecter les produits semi-conducteurs retenus, il tient compte, pour fixer le moment de l’inspection, de manière appropriée des intérêts du requérant, d’une part, et de ceux du déclarant, du possesseur ou du propriétaire, d’autre part.