Art. 18a Ordonnance du 26 avril 1993 sur la protection des topographies de produits semi-conducteurs (OTo) - Échantillons

Le requérant peut présenter une demande pour solliciter la remise ou l’envoi d’échantillons à des fins d’examen ou l’inspection des produits semi-conducteurs retenus. Au lieu d’échantillons, l’OFDF peut aussi lui remettre des photographies desdits produits semi-conducteurs si elles lui permettent d’effectuer cet examen.

Le requérant peut présenter cette demande à la Direction générale des douanes en même temps que la demande d’intervention ou, pendant la rétention des produits semi-conducteurs, directement au bureau de douane qui retient les produits semi-conducteurs.