π.δ. 82/2010

Έλεγχος εφαρμογής

Ο έλεγχος της εφαρμογής του παρόντος ανατίθεται στις αρμόδιες υπηρεσίες του Σώματος Επιθεώρησης Εργασίας (Σ.ΕΠ.Ε.). Για τις επιχειρήσεις των μεταλλείων, λατομείων, ορυχείων, ο έλεγχος του παρόντος διατάγ−

ματος ανατίθεται στις Επιθεωρήσεις Μεταλλείων της Γενικής Γραμματείας Ενέργειας και Κλιματικής Αλλαγής του Υπουργείου Περιβάλλοντος, Ενέργειας και Κλιματικής Αλλαγής.

Κυρώσεις (άρθρο 9 οδηγίας)

1. Σε περίπτωση παραβάσεων των διατάξεων του παρόντος επιβάλλονται οι διοικητικές κυρώσεις του άρθρου 71 του Κ.Ν.Υ.Α.Ε.. Μετά την επιβολή κύρωσης κατά την παράγραφο 2 του άρθρου 71 του Κ.Ν.Υ.Α.Ε.

δεν επιβάλλεται κύρωση κατά την παράγραφο 1 του άρθρου αυτού για την ίδια παράβαση.

2. Ως προς την ποινική ευθύνη για παραβάσεις του παρόντος, εφαρμόζονται οι διατάξεις του άρθρου 72 του Κ.Ν.Υ.Α.Ε..

ΤΜΗΜΑ IV ΤΕΛΙΚΕΣ ΔΙΑΤΑΞΕΙΣ

Προσάρτηση Παραρτημάτων

Προσαρτώνται και αποτελούν αναπόσπαστο μέρος του παρόντος διατάγματος το παράρτημα Ι «Ασύμφωνη οπτική ακτινοβολία» και το παράρτημα ΙΙ «Οπτική ακτινοβολία λέιζερ».

ΠΑΡΑΡΤΗΜΑ Ι Ασύμφωνη οπτική ακτινοβολία Οι τιμές έκθεσης που σχετίζονται με βιολογικές επιπτώσεις εκ της οπτικής ακτινοβολίας δύνανται να προσδιοριστούν βάσει των παρακάτω τύπων. Οι χρησιμοποιητέοι τύποι εξαρτώνται από την περιοχή μήκους κύματος της ακτινοβολίας που εκπέμπεται από την πηγή, τα δε αποτελέσματα θα πρέπει να συγκρίνονται με τις αντίστοιχες οριακές τιμές έκθεσης που περιλαμβάνονται στον πίνακα 1.1. Για μια δεδομένη πηγή οπτικής ακτινοβολίας μπορεί να έχουν έννοια περισσότερες της μιας τιμές έκθεσης και αντίστοιχες οριακές τιμές έκθεσης.

Η αρίθμηση α) έως ιε) παραπέμπει στις αντίστοιχες σειρές του πίνακα 1.1.

α)

Heff =

t

λ = 400 nm

∫

∫ E ( λ , t ) . S( λ ) . d λ . d t λ

λ = 180 nm

β)

t

λ = 400 nm

λ = 315 nm

∫

H UVA =

∫ E (λ, t) . dλ . dt λ

λ = 700 nm

γ), δ)

∫ Lλ (λ) B(λ) dλ

LB =

λ = 300 nm

λ = 700 nm

ε), στ)

∫ E (λ ) . B ( λ) . d λ

EB =

λ

λ = 300 nm λ2

ζ)ως ιβ)

LR =

∫ L (λ) . R(λ) . dλ λ

λ1

λ = 3000 nm

ιγ, ιδ)

∫ E (λ) ⋅ dλ

E IR =

λ

λ = 780 nm t

ιε)

H skin =

∫

λ = 3000 nm

∫ E (λ , t) ⋅ dλ ⋅ dt λ

λ = 380 nm

(η Heff έχει έννοια μόνο στην περιοχή μήκους κύματος από 180 ως 400 nm) (η HUVA έχει έννοια μόνο στην περιοχή μήκους κύματος από 315 ως 400 nm) (η LB έχει έννοια μόνο στην περιοχή μήκους κύματος από 300 ως 700 nm) (ο ΕΒ έχει έννοια μόνο στην περιοχή μήκους κύματος από 300 έως 700 nm) (Για τις κατάλληλες τιμές των λ1 και λ2 ανατρέξτε στον πίνακα 1.1) (Ο EIR έχει έννοια μόνο στην περιοχή μήκους κύματος από 780 ως 3 000 nm) (Η Hskin έχει έννοια μόνο στην περιοχή μήκους κύματος από 380 έως 3 000 nm)

Για τους σκοπούς της παρούσας οδηγίας, οι παραπάνω τύποι δύνανται ν' αντικατασταθούν από τις παρακάτω μαθηματικές εκφράσεις και τη χρησιμοποίηση διακριτών τιμών, όπως αυτές καθορίζονται στους παρακάτω πίνακες: λ = 400 nm

∑ Eλ · S(λ) · Δλ

α)

Eeff =

β)

EUVA =

γ), δ)

LB =

ε), στ)

EB =

λ = 180 nm

και Heff ¼ Eeff · Δt

λ = 400 nm

∑ E · Δλ

λ λ = 315 nm

και HUVA ¼ EUVA · Δt

λ = 700 nm

∑ L . B(λ) . Δλ

λ λ = 300 nm

λ = 700 nm

∑ E . B ( λ) . Δ λ λ

λ = 300 nm

λ2

ζ ως ιβ)

LR =

∑ L . R(λ) . Δλ λ

λ1

λ = 3 000 nm

ιγ, ιδ)

E IR =

∑ E . Δλ λ

λ = 780 nm

(Για τις κατάλληλες τιμές των λ1 και λ2 ανατρέξτε στον πίνακα 1.1)

λ = 3 000 nm

ιε)

Eskin =

∑ E · Δλ

λ λ = 380 nm

και Hskin ¼ Eskin · Δt

Σημειώσεις: Eλ (λ, t), Eλ φασματικός ακτινοβολισμός ή φασματική πυκνότητα ισχύος: η ισχύς ακτινοβολίας που προσπίπτει πάνω σε μια επιφάνεια, ανά μονάδα επιφανείας. Εκφράζεται σε βατ ανά τετραγωνικό μέτρο ανά νανόμετρο [W m-2 nm-1]. Οι τιμές των Eλ (λ, t) και Eλ προέρχονται από μετρήσεις ή μπορεί να παρέχονται από τον κατασκευαστή του εξοπλισμού.

Eeff

ενεργός ακτινοβολισμός (UV περιοχή): υπολογιζόμενος ακτινοβολισμός εντός της UV περιοχής μήκους κύματος από 180 έως 400 nm, φασματικώς σταθμισμένος με τη στάθμιση S (λ). Εκφράζεται σε βατ ανά τετραγωνικό μέτρο [W m-2].

H

έκθεση σε ακτινοβολία, το ολοκλήρωμα χρόνου του ακτινοβολισμού. Εκφράζεται σε τζάουλ ανά τετραγωνικό μέτρο [J m-2].

Heff

ενεργός έκθεση σε ακτινοβολία: έκθεση σε ακτινοβολία φασματικώς σταθμισμένη με τη στάθμιση S (λ).

Εκφράζεται σε τζάουλ ανά τετραγωνικό μέτρο [J m-2].

EUVA

ολικός ακτινοβολισμός (UVA): υπολογιζόμενος ακτινοβολισμός εντός της UVA περιοχής μήκους κύματος από 315 έως 400 nm. Εκφράζεται σε βατ ανά τετραγωνικό μέτρο [W m-2].

HUVA

έκθεση σε ακτινοβολία: το ολοκλήρωμα χρόνου και μήκους κύματος του ακτινοβολισμού ή το άθροισμα του ακτινοβολισμού εντός της UVA περιοχής μήκους κύματος από 315 έως 400 nm. Εκφράζεται σε τζάουλ ανά τετραγωνικό μέτρο [J m-2].

S (λ)

φασματική στάθμιση που λαμβάνει υπόψη την εξάρτηση από το μήκος κύματος των επιπτώσεων της UV ακτινοβολίας επί των ματιών και του δέρματος (πίνακας 1.2) [άνευ διαστάσεων].

t, Δt

χρόνος, διάρκεια της έκθεσης. Εκφράζεται σε δευτερόλεπτα [s].

λ

μήκος κύματος. Εκφράζεται σε νανόμετρα [nm].

Δλ

εύρος ζώνης μήκους κύματος των διαστημάτων υπολογισμού ή μέτρησης. Εκφράζεται σε νανόμετρα [nm].

Lλ(λ), Lλ

φασματική ακτινοβόληση της πηγής. Εκφράζεται σε βατ ανά τετραγωνικό μέτρο ανά στερακτίνιο ανά νανόμετρο [W m-2 sr –1 nm-1].

R(λ)

φασματική στάθμιση που λαμβάνει υπόψη την εξάρτηση από το μήκος κύματος των θερμικών βλαβών που προκαλούνται στα μάτια από την ορατή και την IRA ακτινοβολία (Πίνακας 1.3) [άνευ διαστάσεων].

LR

ενεργός ακτινοβόληση (θερμική βλάβη): υπολογιζόμενη ακτινοβόληση φασματικώς σταθμισμένη με τη στάθμιση R(λ). Εκφράζεται σε βατ ανά τετραγωνικό μέτρο ανά στερακτίνιο [W m-2 sr–1].

B(λ)

φασματική στάθμιση που λαμβάνει υπόψη την εξάρτηση από το μήκος κύματος των φωτοχημικών βλαβών που προκαλούνται στα μάτια από την ακτινοβολία «κυανού (μπλε) φωτός» (πίνακας 1.3) [άνευ διαστάσεων].

LB

ενεργός ακτινοβόληση («κυανό φως»): υπολογιζόμενη ακτινοβόληση φασματικώς σταθμισμένη με τη στάθμιση B(λ). Εκφράζεται σε βατ ανά τετραγωνικό μέτρο ανά στερακτίνιο [W m-2 sr–1].

EB

ενεργός ακτινοβολισμός («κυανό φως»): υπολογιζόμενος ακτινοβολισμός φασματικώς σταθμισμένος με τη στάθμιση B(λ). Εκφράζεται σε βατ ανά τετραγωνικό μέτρο [W m-2].

EIR

ολικός ακτινοβολισμός (θερμική βλάβη): υπολογιζόμενος ακτινοβολισμός εντός της υπέρυθρης περιοχής μήκους κύματος από 780 έως 3 000 nm. Εκφράζεται σε βατ ανά τετραγωνικό μέτρο [W m-2].

Eskin

ολικός ακτινοβολισμός (ορατή ακτινοβολία, IRA και IRB): υπολογιζόμενος ακτινοβολισμός εντός της περιοχής μήκους κύματος της ορατής και της υπέρυθρης ακτινοβολίας από 380 έως 3 000 nm. Εκφράζεται σε βατ ανά τετραγωνικό μέτρο [W m-2].

Hskin

έκθεση σε ακτινοβολία: το ολοκλήρωμα χρόνου και μήκους κύματος του ακτινοβολισμού ή το άθροισμα του ακτινοβολισμού εντός της περιοχής μήκους κύματος της ορατής και της υπέρυθρης ακτινοβολίας από 380 έως 3 000 nm. Εκφράζεται σε τζάουλ ανά τετραγωνικό μέτρο (J m-2).

α

γωνιακή υποτέμνουσα: η οπτική γωνία που τέμνεται από μια φαινόμενη πηγή, όπως αυτή παρατηρείται σε ένα σημείο του χώρου. Εκφράζεται σε χιλιοστά του ακτινίου (mrad). Ως φαινόμενη πηγή νοείται το πραγματικό ή εικονικό αντικείμενο που σχηματίζει το μικρότερο δυνατό είδωλο πάνω στον αμφιβληστροειδή.

180-400 (UVA, UVB και UVC)

315-400 (UVA)

300-700 (κυανό φως) βλέπε σημείωση 1

300-700 (κυανό φως) βλέπε σημείωση 1

300-700 (κυανό φως) βλέπε σημείωση 1

300-700 (κυανό φως) βλέπε σημείωση 1

β.

γ.

δ.

ε.

στ.

Μήκος κύματος (nm)

α.

Δείκτης

EB = 0,01 t >10 000 s

t για t ≤ 10 000 s

EB Ό

LB = 100 για t > 10 000 s

t για t ≤ 10 000 s

LB Ό

HUVA = 104 για 8ωρη ημερήσια έκθεση

Heff = 30 για 8ωρη ημερήσια έκθεση

Οριακή τιμή έκθεσης

[W m-2]

EB: [W m-2] t: [sec]

[W m-2 sr-1]

LB :[W m-2 sr-1] t: [sec]

[J m-2]

[J m-2]

Μονάδες

για α < 11 mrad βλέπε σημείωση 2

για α ≥ 11 mrad

Παρατήρηση

Πίνακας 1.1 Οριακές τιμές έκθεσης για ασύμφωνη οπτική ακτινοβολία

οφθαλμός αμφιβληστροειδής χιτώνας

οφθαλμός κρυσταλλοειδής φακός

οφθαλμός κερατοειδής χιτώνας επιπεφυκώς κρυσταλλοειδής φακός δέρμα

Όργανο του σώματος

φωτοαμφιβληστρο

καταρρακτογέ-νεσ

φωτοτραυματική κ επιπεφυκίτιδα καταρρακτογένεση ερύθημα ελάστωση καρκίνος του δέρμ

Κίνδυνο

380-1 400 (ορατό και IRA)

380-1 400 (ορατό και IRA)

380-1 400 (ορατό και IRA)

780-1 400 (IRA)

780-1 400 (IRA)

780-1 400 (IRA)

780-3 000 (IRA και IRB)

780-3 000 (IRA και IRB)

η.

θ.

ι.

ια.

ιβ.

ιγ.

ιδ.

Μήκος κύματος (nm)

ζ.

Δείκτης

EIR = 100 για t > 1 000 s

EIR = 18 000 t-0,75 για t ≤ 1 000 s

8,89 · 108 Cα για t < 10 μs

LR Ό

5 · 107 Cα t0,25 για 10 μs ≤ t ≤ 10 s

LR Ό

6 · 106 Cα για t > 10 s

LR Ό

8,89 · 108 Cα για t <10 μs

LR Ό

5 · 107 Cα t0,25 για 10 μs ≤ t ≤ 10 s

LR Ό

2,8 · 107 Cα για t >10 s

LR Ό

Οριακή τιμή έκθεσης

[W m-2]

E: [W m-2] t: [sec]

[W m-2 sr-1]

LR: [W m-2 sr-1] t: [sec]

[W m-2 sr-1]

[W m-2 sr-1]

LR:[W m-2 sr-1] t: [sec]

[W m-2 sr-1]

Μονάδες

α ≤ 11 mrad

11≤ α ≤ 100 mrad Cα = 100 για α > 100 mrad (οπτικό πεδίο μέτρησης: 11 mrad) λ1= 780. λ2= 1 400

Cα = α για

Cα = 11 για

α ≤ 1,7 mrad Cα = α για 1,7 ≤ α ≤ 100 mrad Cα = 100 για α > 100 mrad λ1= 380. λ2= 1 400

Cα = 1,7 για

Παρατήρηση

οφθαλμός κερατοειδής χιτώνας κρυσταλλοειδής φακός

οφθαλμός αμφιβληστροειδής χιτώνας

οφθαλμός αμφιβληστροειδής χιτώνας

Όργανο του σώματος

έγκαυμα κερατοειδούς καταρρακτογένεση

έγκαυμα αμφιβληστροειδούς

έγκαυμα αμφιβληστροειδούς

Κίνδυνος

ΦΕΚ 145

380-3 000 (ορατό, IRA και IRB)

Μήκος κύματος (nm)

Hskin = 20 000 t0,25 για t < 10 s

Οριακή τιμή έκθεσης

H: [J m—2] t: [sec]

Μονάδες

Παρατήρηση

δέρμα

Όργανο του σώματος

έγκαυμα

Κίνδυνος

Σημείωση 2: Για την ατενή παρατήρηση πολύ μικρών πηγών με γωνιακή υποτέμνουσα < 11 mrad, η LB μπορεί να μετατραπεί σε ΕB. Αυτό ισχύει κανονικά μόνο για οφθαλμιατρικά εργαλεία ή για τον ακινητοποιημένο οφθαλμό κατά τη διάρκεια της αναισθησίας. Ο μέγιστος «χρόνος προσήλωσης του βλέμματος» υπολογίζεται με τον τύπο: tmax =100/EB , όπου ο EB εκφράζεται σε W m—2. Λόγω των κινήσεων των οφθαλμών κατά τη διάρκεια των συνήθων οπτικών λειτουργιών, η τιμή αυτή δεν υπερβαίνει τα 100 s.

Σημείωση 1: Η περιοχή μήκους κύματος από 300 έως 700 nm καλύπτει μέρος του UVB, όλο το UVA και το μεγαλύτερο μέρος της ορατής ακτινοβολίας. Ωστόσο, ο συναφής κίνδυνος αναφέρεται συνήθως ως κίνδυνος «κυανού φωτός». Ακριβολογώντας, το κυανό φως καλύπτει μόνον την περιοχή μήκους κύματος από περίπου 400 έως 490 nm.

ιε.

Δείκτης

Πίνακας 1.2 S (λ) [άνευ διαστάσεων], 180 nm έως 400 nm λ (nm)

S (λ)

λ (nm)

S (λ)

λ (nm)

S (λ)

λ (nm)

S (λ)

λ (nm)

S (λ)

0,0120 0,0126 0,0132

0,1737 0,1819 0,1900

0,9434 0,9272 0,9112

0,000520 0,000500 0,000479

0,000086 0,000083 0,000080

0,0138 0,0144

0,1995 0,2089

0,8954 0,8800

0,000459 0,000440

0,000077 0,000074

0,0151 0,0158 0,0166

0,2188 0,2292 0,2400

0,8568 0,8342 0,8122

0,000425 0,000410 0,000396

0,000072 0,000069 0,000066

0,0173 0,0181 0,0190

0,2510 0,2624 0,2744

0,7908 0,7700 0,7420

0,000383 0,000370 0,000355

0,000064 0,000062 0,000059

0,0199 0,0208

0,2869 0,3000

0,7151 0,6891

0,000340 0,000327

0,000057 0,000055

0,0218 0,0228 0,0239

0,3111 0,3227 0,3347

0,6641 0,6400 0,6186

0,000315 0,000303 0,000291

0,000053 0,000051 0,000049

0,0250 0,0262

0,3471 0,3600

0,5980 0,5780

0,000280 0,000271

0,000047 0,000046

0,0274 0,0287 0,0300

0,3730 0,3865 0,4005

0,5587 0,5400 0,4984

0,000263 0,000255 0,000248

0,000044 0,000042 0,000041

0,0334 0,0371 0,0412

0,4150 0,4300 0,4465

0,4600 0,3989 0,3459

0,000240 0,000231 0,000223

0,000039 0,000037 0,000036

0,0459 0,0510

0,4637 0,4815

0,3000 0,2210

0,000215 0,000207

0,000035 0,000033

0,0551 0,0595 0,0643

0,5000 0,5200 0,5437

0,1629 0,1200 0,0849

0,000200 0,000191 0,000183

0,000032 0,000031 0,000030

0,0694 0,0750

0,5685 0,5945

0,0600 0,0454

0,000175 0,000167

0,0786 0,0824 0,0864

0,6216 0,6500 0,6792

0,0344 0,0260 0,0197

0,000160 0,000153 0,000147

0,0906 0,0950 0,0995

0,7098 0,7417 0,7751

0,0150 0,0111 0,0081

0,000141 0,000136 0,000130

0,1043 0,1093

0,8100 0,8449

0,0060 0,0042

0,000126 0,000122

0,1145 0,1200 0,1257

0,8812 0,9192 0,9587

0,0030 0,0024 0,0020

0,000118 0,000114 0,000110

0,1316 0,1378

1,0000 0,9919

0,0016 0,0012

0,000106 0,000103

0,1444 0,1500 0,1583

0,9838 0,9758 0,9679

0,0010 0,000819 0,000670

0,000099 0,000096 0,000093

0,1658

0,9600

0,000540

0,000090

Πίνακας 1.3 B (λ), R (λ), [άνευ διαστάσεων] 380 nm έως 1 400 nm λ (σε nm)

B (λ)

R (λ)

300 ≤ λ < 380

0,01

0,01

0,1

0,013

0,13

0,025

0,25

0,05

0,5

0,1

0,2

0,4

0,8

0,9

0,95

9,5

0,98

9,8

0,97

9,7

0,94

9,4

0,9

0,8

0,7

0,62

6,2

0,55

5,5

0,45

4,5

0,32

3,2

0,22

2,2

0,16

1,6

0,1

500 < λ ≤ 600

100,02·(450-λ)

600 < λ ≤ 700

0,001

700 < λ ≤ 1 050

100,002·(700-λ)

1 050 < λ ≤ 1 150

0,2

1 150 < λ ≤ 1 200

0,2· 100,02·(1 150-λ)

1 200 < λ < 1 400

0,02

ΠΑΡΑΡΤΗΜΑ ΙΙ Οπτική ακτινοβολία λέιζερ Οι τιμές έκθεσης που σχετίζονται με βιολογικές επιπτώσεις εκ της οπτικής ακτινοβολίας δύνανται να προσδιοριστούν βάσει των παρακάτω τύπων. Οι χρησιμοποιητέοι τύποι εξαρτώνται από το μήκος κύματος και τη διάρκεια έκθεσης σε ακτινοβολία που εκπέμπεται από την πηγή, τα δε αποτελέσματα θα πρέπει να συγκρίνονται με τις αντίστοιχες οριακές τιμές έκθεσης που περιλαμβάνονται στους πίνακες 2.2 έως 2.4. Για μια δεδομένη πηγή οπτικής ακτινοβολίας λέιζερ μπορεί να έχουν έννοια περισσότερες της μιας τιμές έκθεσης και αντίστοιχες οριακές τιμές έκθεσης.

Οι συντελεστές που υπεισέρχονται στους υπολογισμούς των πινάκων 2.2 — 2.4 έχουν καταχωρηθεί στον πίνακα 2.5, οι δε διορθώσεις για επαναλαμβανόμενη έκθεση στον πίνακα 2.6.

E=

dP [W m-2 ] dA

t

∫

H = E(t) · dt [J m-2 ]

Σημειώσεις: dP

ισχύς Εκφράζεται σε βατ [W].

dA

επιφάνεια Εκφράζεται σε τετραγωνικά μέτρα [m2];

E (t), E

ακτινοβολισμός ή πυκνότητα ισχύος: η ισχύς ακτινοβολίας που προσπίπτει πάνω σε μια επιφάνεια, ανά μονάδα επιφανείας, συνήθως εκφραζόμενη σε βατ ανά τετραγωνικό μέτρο [W m-2]. Οι τιμές των E(t), Ε προέρχονται από μετρήσεις ή μπορεί να παρέχονται από τον κατασκευαστή του εξοπλισμού.

H

έκθεση σε ακτινοβολία, το ολοκλήρωμα χρόνου του ακτινοβολισμού. Εκφράζεται σε τζάουλ ανά τετραγωνικό μέτρο [J m-2];

t

χρόνος, διάρκεια της έκθεσης Εκφράζεται σε δευτερόλεπτα [s].

λ

μήκος κύματος Εκφράζεται σε νανόμετρα [nm].

γ

περιοριστική γωνία κώνου οπτικού πεδίου μέτρησης Εκφράζεται σε χιλιοστά του ακτινίου [mrad].

γm

οπτικό πεδίο μέτρησης Εκφράζεται σε χιλιοστά του ακτινίου [mrad].

α

γωνιακή υποτέμνουσα παρατηρούμενης πηγής Εκφράζεται σε χιλιοστά του ακτινίου [mrad].

περιοριστικό άνοιγμα: η κυκλική επιφάνεια επί της οποίας προσδιορίζεται ο μέσος όρος του ακτινοβολισμού και της έκθεσης σε ακτινοβολία.

G

ολοκληρωμένη ακτινοβόληση: το ολοκλήρωμα της ακτινοβόλησης για δεδομένη διάρκεια έκθεσης. Εκφράζεται ως ενέργεια ακτινοβολίας ανά μονάδα ακτινοβολούσας επιφανείας ανά μονάδα στερεάς γωνίας εκπομπής, σε τζάουλ ανά τετραγωνικό μέτρο ανά στερακτίνιο [J m-2 sr -1].

Πίνακας 2.1 Κίνδυνοι εκ της ακτινοβολίας Μήκος κύματος λ [nm]

Περιοχή ακτινοβολίας

Επηρεαζόμενο όργανο

180 έως 400

UV

οφθαλμός

180 έως 400

UV

δέρμα

400 έως 700

Ορατή ακτινοβολία

400 έως 600

Κίνδυνος

Πίνακας οριακών τιμών έκθεσης

φωτοχημική βλάβη και θερμική βλάβη

2.2, 2.3

ερύθημα

2.4

οφθαλμός

βλάβη του αμφιβληστροειδούς

2.2

Ορατή ακτινοβολία

οφθαλμός

φωτοχημική βλάβη

2.3

400 έως 700

Ορατή ακτινοβολία

δέρμα

θερμική βλάβη

2.4

700 έως 1 400

IRA

οφθαλμός

θερμική βλάβη

2.2, 2.3

700 έως 1 400

IRA

δέρμα

θερμική βλάβη

2.4

1 400 έως 2 600

IRB

οφθαλμός

θερμική βλάβη

2.2

2 600 έως 106

IRC

οφθαλμός

θερμική βλάβη

2.2

1 400 έως 106

IRB, IRC

οφθαλμός

θερμική βλάβη

2.3

1 400 έως 106

IRB, IRC

δέρμα

θερμική βλάβη

2.4

Οριακές τιμές έκθεσης για την έκθεση του οφθαλμού σε ακτινοβολία λέιζερ — Βραχεία διάρκεια έκθεσης < 10 s

Πίνακας 2.2

Οριακές τιμές έκθεσης για την έκθεση του οφθαλμού σε ακτινοβολία λέιζερ — Μακρά διάρκεια έκθεσης ≥ 10 s

Πίνακας 2.3

Οριακές τιμές έκθεσης για την έκθεση του δέρματος σε ακτινοβολία λέιζερ

Πίνακας 2.4

ΦΕΚ 145

Πίνακας 2.5 Χρησιμοποιούμενοι συντελεστές διόρθωσης και άλλες παράμετροι υπολογισμού Παράμετρος όπως αναφέρεται στην ICNIRP

Ισχύουσα φασματική περιοχή (nm)

λ < 700 CA

Τιμή

CA = 1,0

700 — 1 050

CA = 10 0,002(λ - 700)

1 050 — 1 400

CA = 5,0

400 — 450

CB = 1,0

450 — 700

CB = 10 0,02 (λ- 450)

700 — 1 150

CC = 1,0

1 150 — 1 200

CC = 10 0,018(λ - 1 150)

1 200 — 1 400

CC = 8,0

λ < 450

T1 = 10 s

CB

CC

T1

450 — 500 λ > 500

Παράμετρος όπως αναφέρεται στην ICNIRP

Ισχύει για βιολογικό αποτέλεσμα

αmin

όλα τα θερμικά αποτελέσματα

Παράμετρος όπως αναφέρεται στην ICNIRP

Ισχύουσα περιοχή γωνιών (mrad)

CE

T2

T1 = 10 · [10 0,02 (λ - 450)] s T1 = 100 s Τιμή

αmin = 1,5 mrad Τιμή

α < αmin

CE = 1,0

αmin < α < 100

CE = α/αmin

α > 100

CE = α2/(αmin · αmax) mrad όπου αmax = 100 mrad

α < 1,5

T2 = 10 s

1,5 < α < 100 α > 100

T2 = 10 · [10 (α - 1,5) / 98,5] s T2 = 100 s

Παράμετρος όπως αναφέρεται στην ICNIRP

Ισχύουσα περιοχή διάρκειας έκθεσης (s)

t ≤ 100 γ

100 < t < 104 t > 104

Τιμή

γ = 11 [mrad] γ = 1,1 t 0.5 [mrad] γ = 110 [mrad]

Πίνακας 2.6 Διορθώσεις για επαναλαμβανόμενη έκθεση Σε όλες τις περιπτώσεις επαναλαμβανόμενης έκθεσης που προέρχεται από συστήματα λέιζερ επαναληπτικών παλμών ή από συστήματα λέιζερ σάρωσης θα πρέπει να εφαρμόζονται οι εξής τρεις γενικοί κανόνες: 1.

Η έκθεση που προέρχεται από ένα μόνον παλμό μιας παλμοσειράς δεν πρέπει να υπερβαίνει την οριακή τιμή έκθεσης που ισχύει για ένα μόνον παλμό ίσης διάρκειας.

2.

Η έκθεση που προέρχεται από κάθε ομάδα παλμών (ή υποομάδα παλμών μιας παλμοσειράς) που εκπέμπονται εντός χρονικού διαστήματος t δεν πρέπει να υπερβαίνει την οριακή τιμή έκθεσης που ισχύει για χρονικό διάστημα t.

3.

Η έκθεση που προέρχεται από ένα μόνον παλμό εντός μιας ομάδας παλμών δεν πρέπει να υπερβαίνει την οριακή τιμή έκθεσης που ισχύει για ένα μόνον παλμό πολλαπλασιασμένη επί ένα συντελεστή αθροιστικής θερμικής διόρθωσης Cp=N-0,25, όπου N είναι ο αριθμός των παλμών. Ο κανόνας αυτός ισχύει μόνον για τις οριακές τιμές έκθεσης που αποσκοπούν στην προστασία από θερμική βλάβη, όπου όλοι οι παλμοί που εκπέμπονται εντός χρονικού διαστήματος μικρότερου του Tmin λογίζονται σαν ένας και μόνον παλμός.

Παράμετρος

Tmin

Ισχύουσα φασματική περιοχή (nm)

Τιμή

= 10 -9 s (= 1 ns)

315 <λ≤ 400

Tmin

400 <λ≤ 1 050

Tmin = 18· 10 -6 s (= 18 μs)

1 050 <λ≤ 1 400

Tmin = 50· 10 -6 s (= 50 μs)

1 400 <λ≤ 1 500

Tmin = 10 -3 s (= 1 ms)

1 500 <λ≤ 1 800

Tmin = 10 s

1 800 <λ≤ 2 600

Tmin = 10 -3 s (= 1 ms)

2 600 <λ≤ 10 6

Tmin = 10 -7 s (= 100 ns)

Άρθρο 12 (άρθρο 15 οδηγίας) Έναρξη ισχύος Η ισχύς του παρόντος διατάγματος αρχίζει από τη δημοσίευσή του στην Εφημερίδα της Κυβερνήσεως.

Στoν Υπουργό Εργασίας και Κοινωνικής Ασφάλισης αναθέτουμε τη δημοσίευση και την εκτέλεση του παρόντος διατάγματος.

Αθήνα, 31 Αυγούστου 2010 Ο ΠΡΟΕΔΡΟΣ ΤΗΣ ΔΗΜΟΚΡΑΤΙΑΣ

ΚΑΡΟΛΟΣ ΓΡ. ΠΑΠΟΥΛΙΑΣ ΟΙ ΥΠΟΥΡΓΟΙ ΕΣΩΤΕΡΙΚΩΝ, ΑΠΟΚΕΝΤΡΩΣΗΣ ΚΑΙ ΗΛΕΚΤΡΟΝΙΚΗΣ ΔΙΑΚΥΒΕΡΝΗΣΗΣ

ΟΙΚΟΝΟΜΙΚΩΝ

ΙΩΑΝΝΗΣ ΡΑΓΚΟΥΣΗΣ

ΓΕΩΡΓ. ΠΑΠΑΚΩΝΣΤΑΝΤΙΝΟΥ

ΟΙΚΟΝΟΜΙΑΣ, ΑΝΤΑΓΩΝΙΣΤΙΚΟΤΗΤΑΣ ΚΑΙ ΝΑΥΤΙΛΙΑΣ

ΠΕΡΙΒΑΛΛΟΝΤΟΣ, ΕΝΕΡΓΕΙΑΣ ΚΑΙ ΚΛΙΜΑΤΙΚΗΣ ΑΛΛΑΓΗΣ

ΛΟΥΚΙΑ−ΤΑΡΣΙΤΣΑ ΚΑΤΣΕΛΗ

ΚΩΝΣΤΑΝΤΙΝΑ ΜΠΙΡΜΠΙΛΗ

ΕΡΓΑΣΙΑΣ ΚΑΙ ΚΟΙΝΩΝΙΚΗΣ ΑΣΦΑΛΙΣΗΣ

ΥΓΕΙΑΣ ΚΑΙ ΚΟΙΝΩΝΙΚΗΣ ΑΛΛΗΛΕΓΓΥΗΣ

ΑΝΔΡΕΑΣ ΛΟΒΕΡΔΟΣ

ΜΑΡ.−ΕΛ. ΞΕΝΟΓΙΑΝΝΑΚΟΠΟΥΛΟΥ