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Art. 18c Verordnung vom 26. April 1993 über den Schutz von Topographien von Halbleitererzeugnissen (ToV) - Aufbewahrung von Beweismitteln bei Vernichtung der Halbleitererzeugnisse

ToV
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Art. 18c ToV · Aufbewahrung von Beweismitteln bei Vernichtung der Halbleitererzeugnisse

Das BAZG bewahrt die entnommenen Proben oder Muster während eines Jahres ab der Benachrichtigung der Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise des Anmelders, Besitzers oder Eigentümers nach Artikel 77 Absatz 1 des Urheberrechtsgesetzes vom 9. Oktober 1992 auf. Nach Ablauf dieser Frist fordert es die Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise den Anmelder, Besitzer oder Eigentümer auf, die Proben oder Muster in ihren beziehungsweise seinen Besitz zu nehmen oder die Kosten der weiteren Aufbewahrung zu tragen. Ist die Anmelderin, Besitzerin oder Eigentümerin beziehungsweise der Anmelder, Besitzer oder Eigentümer dazu nicht bereit oder lässt sie beziehungsweise er sich innerhalb von 30 Tagen nicht vernehmen, so vernichtet das BAZG die Proben oder Muster.

Das BAZG kann anstelle der Entnahme von Proben oder Mustern Fotografien der vernichteten Halbleitererzeugnisse erstellen, soweit damit der Zweck der Sicherung von Beweismitteln gewährleistet ist.

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