Art. 18a Verordnung vom 26. April 1993 über den Schutz von Topographien von Halbleitererzeugnissen (ToV) - Proben oder Muster

Der Antragsteller oder die Antragstellerin kann die Übergabe oder Zusendung von Proben oder Mustern zur Prüfung oder die Besichtigung der Halbleitererzeugnisse beantragen. Anstelle von Proben oder Mustern kann das BAZG dem Antragsteller oder der Antragstellerin auch Fotografien der zurückbehaltenen Halbleitererzeugnisse übergeben, wenn diese eine Prüfung durch den Antragsteller oder die Antragstellerin ermöglichen.

Der Antrag kann zusammen mit dem Antrag auf Hilfeleistung bei der Oberzolldirektion oder während des Zurückbehaltens der Halbleitererzeugnisse direkt bei der Zollstelle gestellt werden, welche die Halbleitererzeugnisse zurückbehält.